shanghai jing cheng xing yi qi yi biao
主營:鋁離子測(cè)試包,X光測(cè)厚儀,PCB特性阻抗檢測(cè)儀,COD水質(zhì)測(cè)試包,電鍍膜厚儀,共水水質(zhì)測(cè)試包,X光鍍層測(cè)厚儀,銅離子測(cè)試包
先鋒X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020測(cè)厚儀
方法:通過CCD鏡頭觀察樣品倉
快速無損測(cè)量
電鍍層膜厚,測(cè)量電鍍層厚度:
測(cè)量金,鎳,銀,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等電鍍層厚度
單鍍層,雙鍍層,多鍍層,鋅鎳合金鍍層均可以測(cè)量
儀器功能
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢驗(yàn)樣品)
鍍層厚度測(cè)試范圍:0.03-35um
可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間:10-30秒
先鋒X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020測(cè)厚儀
方法:通過CCD鏡頭觀察樣品倉
快速無損測(cè)量
電鍍層膜厚,測(cè)量電鍍層厚度:
測(cè)量金,鎳,銀,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等電鍍層厚度
單鍍層,雙鍍層,多鍍層,鋅鎳合金鍍層均可以測(cè)量
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