LED燈具壽命快速評(píng)估系統(tǒng)III型

LED燈具快速壽命評(píng)估系統(tǒng)III型

快速的結(jié)溫測(cè)量與壽命評(píng)估

l 壽命評(píng)估耗時(shí)：48小時(shí)以內(nèi)

l 壽命評(píng)估精度：±10%

l 結(jié)溫測(cè)量精度：±2℃

l 環(huán)境模擬精度：±1℃

現(xiàn)有技術(shù)弊端

結(jié)溫是影響LED燈具壽命的關(guān)鍵因素。由于整燈中LED芯片已被外殼完全固定和包裹，傳統(tǒng)的接觸式測(cè)試方式無法測(cè)量其結(jié)溫，必須破壞燈具才能完成；而傳統(tǒng)的LED燈具壽命測(cè)量方法需要上千小時(shí)的高溫老化，成本極高且費(fèi)時(shí)費(fèi)力；受到加工、裝配、工藝等的影響，芯片、模組的工況與整燈完全不同，若將兩者數(shù)據(jù)等同，是很不科學(xué)的。

技術(shù)突破

本設(shè)備為國內(nèi)外首套集高精度結(jié)溫測(cè)量和快速壽命評(píng)估為一體，在對(duì)樣品不產(chǎn)生任何破壞的前提下進(jìn)行結(jié)溫測(cè)量和燈具壽命評(píng)估，可在48小時(shí)內(nèi)獲得樣品在任意環(huán)境溫度（+5℃ ~ +125℃）工作時(shí)的結(jié)溫和壽命；采用光學(xué)法測(cè)量，尤其適合對(duì)采用單晶片LED的燈具進(jìn)行結(jié)溫測(cè)量和壽命評(píng)估；測(cè)試精度高，結(jié)溫精度±2℃，壽命精度±10%。

測(cè)試原理

結(jié)溫的變化將導(dǎo)致LED發(fā)光光譜的峰值出現(xiàn)變化。因此，通過檢測(cè)不同溫度點(diǎn)下LED發(fā)光光譜中峰值，獲得峰值波長(zhǎng)與結(jié)溫的相關(guān)曲線，再測(cè)得樣品在某溫度工作下的峰值并代入曲線中即可得到樣品在該環(huán)境溫度下工作時(shí)的結(jié)溫。本系統(tǒng)采用進(jìn)口光譜儀，精度高，可靠性強(qiáng)。光學(xué)法尤其適用于采用了單晶片封裝的LED及其模組和整燈。

 

 

適用范圍

l 系統(tǒng)自帶夾裝平臺(tái)和各種夾具，經(jīng)組合后可測(cè)量筒燈、汽車燈等小型LED燈具，樣品尺寸可達(dá)340×320×320（單位mm），樣品重量可達(dá)10Kg；

l 除整燈外還可可測(cè)量各種LED模組、芯片

l 可同時(shí)為8個(gè)樣品獨(dú)立供電，一次可同時(shí)測(cè)量多個(gè)樣品，互不影響，大大提高檢測(cè)效率；

l 尤其適用于采用了單晶片封裝的LED及其模組和整燈；

l 可測(cè)量樣品在任意環(huán)境溫度（+5℃ ~ +125℃）下工作時(shí)的結(jié)溫和壽命；

l 提供環(huán)境模擬和LED光譜測(cè)試、電參數(shù)測(cè)試。

系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

系統(tǒng) 參數(shù)	型號(hào)	JT/LA-III-G
	外形尺寸	480mm×500 mm×630 mm
	樣品尺寸	340 mm×320 mm×320 mm
	樣品重量	10Kg
	器件結(jié)溫測(cè)試方法	光學(xué)法
	結(jié)溫測(cè)量精度	±2℃
	總功率	3KW
	溫度調(diào)節(jié)范圍	+5℃～+125℃
	溫度控制精度	±2℃
	環(huán)境模擬系統(tǒng)供電電源	380V±10%,50Hz±1三相四線+接地線，保護(hù)接地電阻＜4Ω
	測(cè)試系統(tǒng)供電電源	220V±10%,50Hz±1帶接地線，保護(hù)接地電阻＜4Ω
光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)	波長(zhǎng)范圍	200 nm -1100 nm
	分辨率	0.025-20 nm
	光譜儀的積分時(shí)間	10毫秒至10分鐘
	采樣速度	3.7毫秒/每次掃描
	數(shù)據(jù)傳輸速度	3.7 ms