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日立X-Strata920X射線熒光鍍層測厚儀

價格

面議

  • 單價:電議
  • 最小起訂量: 1
  • 所在地:廣東 廣州
  • 供貨總量: 110
  • 發(fā)布時間:2020-12-05

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產(chǎn)品描述

日立X-Strata920X射線熒光鍍層測厚儀

 

日立X-Strata920使用X射線熒光(XRF)進行的鍍層厚度測量是經(jīng)過證明的快速的無損分析技術,X-Strata920設計為面向電子產(chǎn)品和金屬表面 處理,測量單層和多鍍層(包括合金層),應用相關人士對 X-Strata920 進行了進一步升級, 確保獲得可靠、可重復結果,滿足數(shù)百種應用,包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。

X-Strata920X這一不錯的工具可確保樣品符合規(guī)格,同時通過避免過度電鍍和返工來降低成本。操作員只需加載樣品,將其定位在屏幕上的目標下方,使用激光焦點對齊,即可開始測量。結果在幾秒內即可顯示出來,然后操作員可快速執(zhí)行下一個任務。得益于通過可追溯標準打造的優(yōu)化校準方式,您將對結果的準確性充滿信心。日本日立提供多種鍍層厚度解決方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920)

使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)規(guī)范,如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

 

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